Płytka kalibracyjna rozdzielczości obiektywu aparatu, tabela testowa rozdzielczości aparatu 30 mm, dokładność ± 5um, przepuszczalność światła 90%, proces zapisu wiązką elektronów, do badań

- Płytka do kalibracji rozdzielczości obiektywu aparatu: Płyta ta, posiadająca średnicę 30 mm wykonaną ze szkła optycznego o przepuszczalności 90% i precyzyjną średnicę wzoru wynoszącą 25 mm, jest produkowana przy użyciu zaawansowanego procesu pisania wiązką elektronów, zapewniającego dokładność ± 0,5 µm.
- Wysoka dokładność: Utrzymując wysoki poziom precyzji ± 0,5 µm, ta płytka kalibracyjna poddawana jest rygorystycznym kontrolom procesu w celu zapewnienia zgodności ze specyfikacjami, co czyni ją niezbędnym narzędziem do badań naukowych i testów przemysłowych.
- Wysoka transmitancja zapewniająca lepszą klarowność: Dzięki poziomom transmitancji sięgającym 90% ta płytka zwiększa klarowność i kontrast obrazu, co prowadzi do lepszej dokładności pomiaru i ogólnej stabilności systemu.
- Fotolitografia z zapisem bezpośrednim: Ta płytka kalibracyjna wykorzystuje precyzyjne przetwarzanie wzorów w skali nano, które spełnia rygorystyczne standardy produkcyjne wymagane w przypadku mikro i nanostruktur o dużej gęstości i wysokiej rozdzielczości.
- Doskonała płaskość: chromowanie zwiększa płaskość, minimalizując wpływ zmian geometrycznych powierzchni, a tym samym poprawiając zarówno dokładność kalibracji, jak i stabilność.